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产品简介：
BX-D2258多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、智能化综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》等并参考美国 A.S.T.M 标准。
2.2 BX-D2258多功能数字式四探针测试仪成套组成：由BX-D2258四探针主机、选配的四探针探头、选配四探针测试台等部分组成。
仪器特点：
1：本测试仪特增设测试结果自动分类功能，最大分类10类。
2：可定制 USB通讯接口，便于其拓展为集成化测试系统中的测试模块。
3：8档位超宽量程，行业领-先。 同行一般为五到六档位。
4: 仪器小型化、手动/自动一体化。
5: 仪器操作简便、性能稳定，所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入，简便而且免除模拟定位器的不稳定。
2.4探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。详情见《四探针探头型号规格特征选型参照表》
1配高耐磨的碳化钨探针探头，如D2258-F01型，以测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；
2配不伤膜的球形或平头镀金铜合金探针探头，如D2258-F01型，可测金属箔、碳纸等导电薄膜，也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜，如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层电阻率/方阻。
3配专用箔上涂层探头，如D2258-F02型，也可测试锂电池电池极片等箔上涂层电阻率/方阻。
4换上四端子测试夹具，还可对电阻器的体电阻进行测量。。
2.5测试台选配：根据不同材料特性需要，测试台可有多款选配。详情见《四探针测试台型号规格特征选型参照表》
四探针法测试固体或薄膜材料选配SZT-A型或SZT-B型（电动）或SZT-C型（快速恒压）或SZT-F型（太阳能电池片）测试台。
二探针法测试细长棒类材料选配SZT-K型测试台.
平行四刀法测试橡塑材料选配SZT-G型测试台。
2.6适用范围：仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
技术参数：
测量范围
1、电阻率：10-6～2X105 Ω .cm
2、方块电阻：10-5～1X106 Ω /￡
3、电阻：10-5～2X106 Ω
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径： SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限
长(高)度： 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
3.3 量程划分及误差等级
满度显示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 |
测试电流 | 0.1μA | 1.0μA | 10μA | 100μA | 1.0mA | 10mA | 100mA | 1.0A |
常规量程 | kΩ-cm/□ | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | ||||
基本误差 | ±2%FSB ±4LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | ±0.5%FSB±2LSB | ±1.0%FSB ±4LSB | ||||
注： 电流精度 ±0.1%
3.4 四探针探头（选配其一或加配全部）
(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调
(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调
3.5. 电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<20W
3.6.外形尺寸、重量：主 机： 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高），净重：≤2.5kg
