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硅材料复合测试仪 硅材料复合分析仪 硅材料测试仪

简要描述:硅材料复合测试仪 硅材料复合分析仪 硅材料测试仪
可对电阻率为1000-.0.01欧姆/厘米的硅材料作导电类型测定,同时可以声,光报警方式表示被测材料属于"重掺"。

产品型号: DL10-SZT-5

所属分类:元素分析仪

更新时间:2023-07-31

厂商性质:生产厂家

详情介绍

硅材料复合测试仪 硅材料复合分析仪 硅材料测试仪 

型号:DL10-SZT-5

硅材料复合测试仪,是由二种硅材料测试仪器组合而成的

硅材料复合测试仪 硅材料复合分析仪 硅材料测试仪 

1,二量程的电阻测量仪器,配以手持式四针测试头或座式测试架,可用来测量片状,柱状,或块状,电阻率在0.01~200欧姆/厘范围内的半导体材料。通过对恒流源的调整,可以对某些测量结果进行修整,例如对普通硅材料的测试结果要乘以0.628的探险头修正系数,对硅材料薄层扩散和导电薄膜 “方块电阻“ 的修正系数为4.53等均可通过调正恒流电流加以处理。

ST512-SZT-5数字式四探针测试仪,体形小巧,操作方便,量程适中,十分适於对重炼回料的分选。

2,整流法硅材料P-N极性判别仪,配有三针手持式探头,能对片状或块状电阻率在1000-0.01欧姆/厘米的。硅材料进行极性判别

本仪器工作环境条件为:

  温  度:18℃―25℃

相对湿度:50%-70%

工作室内应无强电场干扰,不与高频设备共用电源。

二,    技术参数

1,测量范围

(1)电阻率测量:

电 阻 率 0.01-200Ω-cm

方块电阻 0.01-200Ω-口

电 阻 0.01-200.0Ω

2,数字电压表

(1)量 程 : 200mV单一量程

(2)误 差: 读数 ±0.2%±3字

(3)输入电阻 : >10MΩ

3,恒 流 源

(1)电流输出 0~10mA连续可调

(2)量 程 1mA, 10mA

(3)误 差 ±0.2%±3字,

4,手持式四探针测试头

(a)探 针 间 距:: 1mm

(b)探针机械游移率: ±1.0%

(c)探 针 材 料: 碳化钨,φ0.

(d)压力: zui大 2Kg

(2)导电类型判别:

可对电阻率为1000-.0.01欧姆/厘米的硅材料作导电类型测定,同时可以声,光报警方式表示被测材料属于”重掺”。



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