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数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪

简要描述:数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪
测量范围

电阻率:10-2~102Ω-cm;

方块电阻:10-1~103Ω/□;

电阻:10-3~9999Ω

产品型号: DL10-1934B

所属分类:测温仪表

更新时间:2016-04-06

厂商性质:生产厂家

详情介绍

数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪

型号:DL10-1934B

数字式四探针测试计 四探针测试计 半导体四探针检测仪

测量范围 

电阻率:10-2102Ω-cm

方块电阻:10-1103Ω/□;

电阻:10-39999Ω 

可测半导体材料尺寸 

直径:Φ15100mm; 

长(或高)度: ≤400mm 

外形尺寸 

主机 170mmD)×130 mmW)×50mmH) 

电源                   

功 耗:<1W; 

电源适配器:

输入:220V±10% 50Hz; 

输出:DC5V±10% 



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